透射电镜（TEM）数据分析

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衍射花样标定、位相关系确定、高分辨分析、EELS分析、GPA分析、汇聚束衍射分析。 也可以提供数据分析的培训服务。   提供尽可能多的样品信息以及原始数据。如PDF卡片，CIF文……

扫描电镜 SEM / EDS / EBSD / TKD / CL / ECCI

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二次电子像，背散射电子像，能谱EDS，阴极荧光CL，电子背散射衍射EBSD，TKD，ECCI等 主要用于对材料的微观形貌、组织、成分、晶体取向和缺陷进行有效分析 案例一：SEM看截面形貌 ……

原位加热扫描电镜（SEM）

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以电子束为光源，在加速电压的作用下，电子束经过镜筒聚焦，在试样表面做光栅状扫描，产生各种同试样有关的物理信息（如二次电子、背散射电子等），从而获得表征试样形貌、原子序数……

聚焦离子束-电子束双束电镜 FIB-SEM

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TEM制样 截面分析 芯片修补与线路修改 微纳结构制备 三维重构分析 原子探针样品制备   适用于金属、半导体、陶瓷、高温合金、芯片等材料的微纳加工，芯片解理以及透射电镜（TE……

FIB-SEM双束电镜培训

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本次实战培训班的对象面向半导体、钢铁样品、高温合金、电池材料、二维材料、陶瓷及地质样品等的FIB+TEM制样用户，或者高校、科研单位及企业中的FIB工程师群体。 培训内容 1. FIB……

FIB-SEM双束电镜/PFIB 氙离子束

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氙离子束，加工效率高，数十倍于镓离子束 样品要求：1.导电性良好；2.尺寸小于5cm   高温原位力学性能及EBSD变化分析 拉伸同时采集EBSD，观察高温拉伸下的晶粒变形及取……