二次电子像，背散射电子像，能谱EDS，阴极荧光CL，电子背散射衍射EBSD，TKD，ECCI等

主要用于对材料的微观形貌、组织、成分、晶体取向和缺陷进行有效分析

案例一：SEM看截面形貌

 

案例二：SEM看截面形貌

 

案例三：阴极荧光CL

案例四：EBSD

 

 

案例五：ECCI

案例六：EDS成分分析