原位加热扫描电镜(SEM)

2024-07-04 

以电子束为光源,在加速电压的作用下,电子束经过镜筒聚焦,在试样表面做光栅状扫描,产生各种同试样有关的物理信息(如二次电子、背散射电子等),从而获得表征试样形貌、原子序数的扫描电子图像。该设备同时配有能谱仪(EDS)和750℃原位加热台,可对样品进行元素分析和室温~750℃之间原位热处理

可用于固体、粉末样品的表面形貌观察和元素分析,相变等材料变温性能研究

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